儀器介紹：（性能指標、功能）

1、θ－θ模式

測量過程中X光管和探測器繞著試樣轉動，樣品始終保持水平靜止不動，適合測量液體、松散粉末、大樣品、文物，以及高低溫、化學反應、壓力等所有樣品。

2、測角儀

步進馬達＋光學編碼器確保測角儀快速而準確定位。非接觸性的光學編碼器系統，不受機械磨損的影響，確保測角儀系統長期運行而精度不減。精度高，角度重現性達±0.0001o，最小步長為0.0001o?？梢噪S意改變測角儀圓直徑，以滿足高強度或高分辨率要求。

3、Sol-X固體探測器

自動過濾熒光、白光等，背景極低，具有最佳的信噪比，具有最佳的分辨率、峰形，適合各種X光源。檢測強度可提高2～4倍。

儀器在材料分析中的應用：

1、晶體及相結構的分析：包括譜線指標化及晶系的測定、物相的定性和 定量分析、相變與結晶形態的研究等；

2、晶體取向分析：包括晶體定向、解理面、慣析面、晶體生長及形變的分析測定等；

3、點陣參數的精修；

4、衍射線形的分析。